“超声检测 声场计算 模拟 相控阵 TOFD 超声成像 工艺设计”参数说明
类型: | 工业超声检测仪 | 测量范围: | 0.05us-400us |
“超声检测 声场计算 模拟 相控阵 TOFD 超声成像 工艺设计”详细介绍
超声检测声场计算及模拟以其能够提高对超声回波产生机理及超声成像的理解,降低实验研究成本的优点。该系统可实现超声检测发射声场和缺陷回波声场的快速计算,可应用于探伤工艺设计、声场和缺陷信号辅助分析以及无损检测人员培训等。
它由模拟、成像和分析模块组成;
* 可以用来设计或者优化检测方法,预测在实际的无损探伤工作中的检测能力。
* 利用其API可以和你的超声软件进行完美结合,从模拟仿真、采集、分析一步完成
可以处理标准的或者高级设计的UT探头;
可以计算延迟法则,可以产生单点或者多点聚焦、扇形扫查等;多探头同时显示;
可以在工件内部设置任意数量和位置的缺陷,以模拟缺陷的信号波幅大小;